Scanning Electron Microscope (SEM)

Nimi ja malli: Jeol JSM-6400

Yhteyshenkilö: N/A

Valmistusvuosi:

Asennusvuosi:

Laitteen yleiskuvaus:

Käyttö: Electron microscope imaging and elemental and structural analysis of materials.

Tärkeimmät ominaisuudet ja lisävarusteet:

Microscope equipped with EDS (Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy) analyzer and EBSD (Electro Backscatter Diffraction) camera for chemical and crystal structure analysis.

Tärkeimmät spesifikaatiot: Acceleration voltage: 1-40 kV
Resolution: 3.5 nm/35 kV
EDS detector
Elemental analysis from carbon to uranium
EBSD camera and analysis software for crystal structure analysis

Valokuva:

Sijainti: University of Oulu, Center of Microscopy and Nanotechnology

Kaupunki: Oulu