In English

FinDNano
Etusivu Info Laite- ja osaamisluokitus Tutkimuslaitokset Yritykset Haku Ota yhteyttä Linkit Kuvapankki

FinDNanoHae FinDNanosta


Etusivu » Laite- ja osaamisluokitus

Other Nanostructure analysis

  • 1. Nanofabrication
  • 2. Characterization
  • 2.2. Nanostructure analysis
  • 2.2.1. X-ray scattering (SAXS, WAXS)
  • 2.2.2. Electron Backscattered Diffraction (EBSD)
  • 2.2.3. Other Nanostructure analysis
    • Laitteet
    Surface area and porosity analyzer - Itä-Suomen yliopisto
    X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) - Tampereen teknillinen yliopisto
    X-ray Single Crystal Diffractometer - Jyväskylän yliopisto

    Osaamiset
    Porous silicon - Itä-Suomen yliopisto
  • 3. Computation, Modeling and Simulation
  • 4. Other
MIKTECH OY - Graanintie 5, 50190 Mikkeli
Kirjaudu
Sivukartta
Powered by Evianet Solutions Oy